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makeway/上海 磁学测量系统/综合物性测量仪

makeway/上海 磁学测量系统/综合物性测量仪

makeway/上海 磁学测量系统/综合物性测量仪

2013 年 3 月makeway 公司在美国物理协会年会上,发布了全新设计的磁学测量系统:MPMS3系统。该系统仍旧基于SQUID探测技术,但不是MPMS(SQUID)XL系列和SQUID-VSM系统的简单升。MPMS3系统是makeway公司潜心开发多年的结晶,在该产品上集成了大量的全新技术。
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makeway/上海 薄膜应力测试仪/国产

makeway/上海 薄膜应力测试仪/国产

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具备三维翘曲(平整度)及薄膜应力的检测功能,适用于半导体晶圆生产、半导体制程工艺开发、玻璃及陶瓷晶圆生产,尤其具有测量整面翘曲曲率分布的能力
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makeway/上海 X射线衍仪/国产

makeway/上海 X射线衍仪/国产

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X射线衍仪 射线衍仪主要应用于粉末、块状或薄膜样品的物相定性、定量分析、晶体结构分析、晶体的取向分析、宏观应力或微观应力的测定、晶粒大小测定、结晶度测定等 。整机采用可编程序控制器PLC 控制技术;操作方便,一键式采集系统; 模块化设计, 配件即插用,无需校准; 触摸屏实时在线监测,显示仪器状态;高功率 X射线发生器,性能稳定可靠;电子铅门联锁装置,双重防护确保使用者安全。
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makeway/上海 近常压X射线光电子能谱仪NAP-XPS

makeway/上海 近常压X射线光电子能谱仪NAP-XPS

makeway/上海 近常压X射线光电子能谱仪NAP-XPS

NAP-XPS是一种可在近常压(通常为1-25 mbar)环境下进行材料表面化学状态原位分析的仪器,突破了传统XPS仅能在超高真空(UHV)下工作的限制。其核心功能包括动态监测材料在反应气氛(如气体、蒸汽或电化学环境)中的表面元素组成、化学价态及电子结构变化.
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晶圆分析仪 CVP21

CVP21

晶圆分析仪 CVP21

晶圆分析仪 CVP21 是一款方便的工具,可在半导体研究或生产中通过电化学电容电压分析(ECV 分析、CV 分析)来测量半导体层中的掺杂分布。
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4D - 4 点探头

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