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共 9 条 · 工业 X 射线与 CT 检测设备

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Comet Yxlon CA20 先进封装 3D X 射线检测系统

CA20

Comet Yxlon CA20 先进封装 3D X 射线检测系统

CA20 是面向先进封装的全自动检测解决方案,可提供高分辨率 2D 与 3D 图像,用于快速检测微米级细节并识别焊点与 TSV 等结构缺陷。
  • 应用/版本MXI / Lab
  • 最大检测包络435 mm (17")
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Cheetah EVO

Comet Yxlon Cheetah EVO 电子行业高精度 X 射线检测系统

Cheetah EVO 面向 SMT、半导体和实验室场景,可提升检测速度、图像质量和效率,支持 2D、2.5D 和 3D 成像。
  • 样品尺寸800 x 500 [mm] (31'' x 19'')
  • 最大透视区域460 x 410 [mm] (18'' x 16'')
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Cougar EVO

Comet Yxlon Cougar EVO SMT 紧凑型 X 射线检测系统

Cougar EVO 是占地紧凑的 X 射线检测系统,用于 SMT、半导体行业和实验室的高效可靠检测。
  • 样品尺寸440 x 550 [mm] (17'' x 21'')
  • 最大透视区域310 x 310 [mm] (12'' x 12'')
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FF20 CT

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半导体工艺设备
薄膜沉积与PVD系统
快速热处理与CVD/ALD系统
铁电与压电测试系统
半导体涂胶显影与晶圆处理设备
激光光谱与光子学系统
光刻、太阳模拟与计量设备
晶圆键合、光刻与量测系统
晶圆检测、晶体生长与等离子工艺设备
低温、磁学与材料表征系统
薄膜沉积、PVD/ALD 与真空系统
光刻、无掩模直写与曝光系统
扫描探针、低温显微与磁测量系统
开尔文探针、表面电势与光电子系统
介电、阻抗与温控测量系统
晶圆键合、对准与键合系统
磁光克尔效应与无掩模光刻系统
离子注入系统
薄膜沉积与真空工艺系统
半导体二手设备
半导体检测量测设备
半导体沉积与热处理设备
半导体耗材
Comet Yxlon FF20 CT 研发用微焦点 CT 系统
FF20 CT 是紧凑型高分辨率 microCT 系统,用于研发、缺陷分析和 CT 计量中的 X 射线显微应用。
  • 样品直径380 [mm] (11.02")
  • 样品高度700 [mm] (27.6")
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FF35 CT

Comet Yxlon FF35 CT 科研与研发用精密 CT 成像系统

FF35 CT 可配置双射线管,用于中小型部件检测,在实验室 micro-CT 应用中兼顾 CT 数据质量和灵活性。
  • 样品直径530 [mm] (20.9")
  • 样品高度800 [mm] (31.5")
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MTIS

Comet Yxlon MTIS 模块化轮胎检测方案

MTIS 是用于子午线轮胎检测的 X 射线系统,可在质量保证和过程优化中提供图像质量、检测精度和统计过程控制数据。
  • 版本Y.MTIS - TBR
  • 轮胎宽度100 - 508 mm / 4" - 20"
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UX50

Comet Yxlon UX50 高通量环境先进 CT 系统

UX50 具备大型检测包络、多个视场扩展和 450 kV X 射线管,用于复杂致密部件的 CT 检测。
  • 样品直径600 [mm]
  • 样品高度850 [mm] Flat-Panel Detector / 800 [mm] Line Detector
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计量系列:用于尺寸计量的 VDI/VDE 2630 认证 CT 扫描仪

Metrology Series

计量系列:用于尺寸计量的 VDI/VDE 2630 认证 CT 扫描仪

CT 系统可确保尺寸精度
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UltraTom:开放式模块化实验室 X 射线 CT 扫描仪

UltraTom

UltraTom:开放式模块化实验室 X 射线 CT 扫描仪

终极灵活性 X 射线微纳米 CT 系统
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