产品信息

X射线衍仪 射线衍仪主要应用于粉末、块状或薄膜样品的物相定性、定量分析、晶体结构分析、晶体的取向分析、宏观应力或微观应力的测定、晶粒大小测定、结晶度测定等 。整机采用可编程序控制器PLC 控制技术；操作方便，一键式采集系统； 模块化设计， 配件即插用，无需校准； 触摸屏实时在线监测，显示仪器状态；高功率 X射线发生器，性能稳定可靠；电子铅门联锁装置，双重防护确保使用者安全。

X射线衍射仪---上海麦科威

仪器 功能 ：

X射线衍仪 射线衍仪主要应用于粉末、块状或薄膜样品的物相定性、定量分析、晶体结构分析、晶体的取向分析、宏观应力或微观应力的测定、晶粒大小测定、结晶度测定等 。

仪器 特点 ：

整机采用可编程序控制器PLC 控制技术；操作方便，一键式采集系统； 模块化设计， 配件即插用，无需校准； 触摸屏实时在线监测，显示仪器状态；高功率 X射线发生器，性能稳定可靠；电子铅门联锁装置，双重防护确保使用者安全。

仪器精度 ：

扫描范围： 范围： -110～161°；

扫描方式： 透射、 步进、连续 、OMG；

最小步进角度：0.0001°；

2θ角重复精度：0.0001°；

全谱图 2θ 角线性精度：≤±0.0 1°。

TD -3700型X射线衍仪除了常规衍射模式外还可以支持透射。透射模式的分辨率高,衍射信号强 。另外透射模式 更适合微量样品的测试与扫描。 即可以捕捉到微量样品的衍射峰还可以消除样品的择优取向。配备上高性能一维阵列探测器后。不但测试精度会更高，而且测试强度比传统探测器提高了几十倍 ，采样时间更是比传统 探测器缩短了十几倍，可以在较短的采样时间内获取高强度、高分辨率的完整衍射图谱。并且超高的分辨率在测量 国际标准样品si 粉，采样时间0.1秒，步宽角度0.01 ˚ 时，主峰 28.442的半峰宽优于0.075，且主峰分辨率≤85%。

高性能一维阵列探测器

一维阵列探测器充分运用了混合光子计数技术，无噪音，快速数据采集，超过闪烁探测器十几倍以上的速度，优异的能量分辨率，能有效的去除荧光效应。640通道的探测器具有较快的读出时间，形成较优的信噪比。带有电子门控和外部触发的探测器控制系统，有效的完成系统的同步。

TD-3700高分辨X射线衍射仪样品分析图谱展示