首页
产品中心

设备资源

正在整理可询价设备

同步核对品牌、型号、图片和应用方向，保持产品浏览与询价路径清晰。

实验室仪器半导体设备型号检索

微信扫码咨询13422079856

发送型号、图片或采购需求

联系我们

科桥实验面向实验室仪器采购与二手半导体设备流通场景，支持型号检索、库存核对、出售收购、维修翻新、备件确认和交付沟通。

公司：科桥实验 CladeLab

电话：13422079856

邮箱：cladelab_services@outlook.com

关于我们联系我们

实验室仪器

实验室仪器产品中心设备型号目录材料表征仪器光谱与元素分析通用实验室设备站内搜索型号

二手半导体设备

二手设备出售收购二手设备库存清单二手ASML设备二手NIKON设备二手DISCO设备二手KLA设备二手HITACHI设备二手ACCRETECH设备提交库存或出售需求

半导体工艺设备

光刻、曝光与图形化设备刻蚀、清洗与表面处理设备薄膜沉积、PVD/ALD与真空系统检测、量测与失效分析设备切割、研磨与抛光设备封装、固晶与焊线设备按工艺目录查找

应用与知识

制药质量控制介孔和大孔材料分析孔径分布与孔体积分析技术文章常见问题术语词典

© 2026 CladeLab. All rights reserved.|提交需求后协助核对库存、配置、成色、报价与交付周期|粤ICP备2026090232号-1|隐私政策

产品与参数

产品中心

按仪器类型、品牌和应用场景展示常用型号，便于初步选型；更多型号可通过设备型号目录和站内搜索继续查看。

本页用于快速浏览常用仪器和典型配置；如需查找具体型号，请进入设备型号目录或使用站内搜索。

查看设备型号目录

共 1328 条

产品分类

按仪器品类浏览

全部产品色谱质谱仪器光谱与元素分析材料表征仪器生命科学仪器样品前处理设备通用实验室设备环境食品检测工业现场检测实验室配套与耗材半导体光刻与外延设备工业 X 射线与 CT 检测设备热处理与半导体工艺炉半导体光刻与测量设备纳米光刻、电子束与离子束系统等离子工艺与薄膜测量设备表面分析仪器等离子刻蚀与沉积系统

SENsolar PV quality control for photovoltaic manufacturing

SENsolar PV

SENTECH SENsolar PV 薄膜质量控制系统

SENTECH SENsolar PV 薄膜质量控制系统。SENsolar PV, 质量控制用于太阳能电池制造 of multi- and c-Si-based PERC, HJT, TOPCON, and Perovskite 太阳能电池制造

SE 401adv In-Situ Laser Ellipsometer

SE 401adv

SENTECH SE 401adv 椭偏仪

SENTECH SE 401adv 椭偏仪。SE 401adv 原位激光椭偏仪用于原位测量 sub-angstrom precision 测量 ultra-thin, single-layer films.

FTPadv Film Thickness Probe

FTPadv

SENTECH FTPadv 膜厚探头

SENTECH FTPadv 膜厚探头。FTPadv Film Thickness Probe 用于 cost-effective table top solution 用于 spectroscopic reflectometry 具备 rapid 厚度 measurements.

SENresearch 4.0 In-Situ Spectroscopic Ellipsometer

SENresearch 4.0

SENTECH SENresearch 4.0 椭偏仪

SENTECH SENresearch 4.0 椭偏仪。SENresearch 4.0 原位光谱椭偏仪 monitors 配备 a high spectral resolution 用于终点检测 or to characterise layers.

第 61 / 111 页 · 共 1328 条

...59

61

...111

半导体工艺设备

薄膜沉积与PVD系统

快速热处理与CVD/ALD系统

铁电与压电测试系统

半导体涂胶显影与晶圆处理设备

激光光谱与光子学系统

光刻、太阳模拟与计量设备

晶圆键合、光刻与量测系统

晶圆检测、晶体生长与等离子工艺设备

低温、磁学与材料表征系统

薄膜沉积、PVD/ALD 与真空系统

光刻、无掩模直写与曝光系统

扫描探针、低温显微与磁测量系统

开尔文探针、表面电势与光电子系统

介电、阻抗与温控测量系统

晶圆键合、对准与键合系统

磁光克尔效应与无掩模光刻系统

离子注入系统

薄膜沉积与真空工艺系统

半导体二手设备

半导体检测量测设备

半导体沉积与热处理设备

RM 1000 and RM 2000 Spectroscopic Reflectometry Tools

RM 1000 and RM 2000

SENTECH RM 1000 and RM 2000 反射膜厚测量系统

SENTECH RM 1000 and RM 2000 反射膜厚测量系统。RM 1000 and 2000 spectroscopic reflectometry tools feature a UV to NIR spectral range from 200 nm to 1000 nm 用于 reliable measurement

Depolab 200 PECVD Open Lid System

Depolab 200

SENTECH Depolab 200 PECVD 沉积系统

SENTECH Depolab 200 PECVD 沉积系统。SENTECH Depolab 200 PECVD Open Lid System 是 a basic model 配备 the functions needed 用于等离子增强化学气相沉积

AL Real Time Monitor Laser Ellipsometer

AL Real Time Monitor

SENTECH AL Real Time Monitor 椭偏仪

SENTECH AL Real Time Monitor 椭偏仪。AL Real Time Monitor 用于 fast, precise process monnitoring and development 配备 ultra-high resolution of single ALD and ALE cycles.

SI PEALD Atomic Layer Deposition System

SI PEALD

SENTECH SI PEALD PEALD 原子层沉积系统

SENTECH SI PEALD PEALD 原子层沉积系统。Si PEALD 原子层沉积 (ALD) 配备 the SI PEALD system 用于 precise, conformal, uniform and repeatable results

SILAYO PEALD System

SILAYO

SENTECH SILAYO PEALD 原子层沉积系统

SENTECH SILAYO PEALD 原子层沉积系统。SENTECH SILAYO PEALD 是 a system specially designed 用于 use 配备 optical coatings on large substrates.

SIPARS PECVD deposition system

SIPARS

SENTECH SIPARS PECVD 沉积系统

SENTECH SIPARS PECVD 沉积系统。SIPAR, the PECVD deposition system combining 等离子增强化学气相沉积 and 原子层沉积 in one Reactor.

SI 500 ALE atomic layer etching system

SI

SENTECH SI 原子层刻蚀系统

SENTECH SI 原子层刻蚀系统。Atomic layer etching system 配备 stable plasma at low operating pressure and low ICP power 用于低损伤 etching 配备 precise RF control.

SI 500 ICP-RIE System

SI

SENTECH SI ICP-RIE 刻蚀系统

SENTECH SI ICP-RIE 刻蚀系统。SI 500 ICP-RIE System 是 a 灵活且模块化 plasma etch system 配备 an ICP plasma source 用于低损伤 etching and nanostructuring.