PVA TePla Fluoride Ion Cleaning System 面向湿法清洗、剥离与表面处理场景，页面整理公开资料中的型号、用途和初步选型要点，适合科研检测、材料表征、工艺验证或设备采购沟通。

开尔文探针 3 轴扫描：✓尖端材料/直径：2 毫米金尖端 CPD 分辨率：1 - 3 meV 高度控制（自动）：25 毫米自动开尔文探针模式和 PE 模式：CPD 和光电发射测量 CPD 测量时间：<1 分钟内进行 CPD 测量PE 分辨率：完整光电发射测量WF 测量时间：<5 分钟内进行 PE 测量DOS 测量：完全访问 DOS 信息光学系统：彩色相机带变焦和定位监视器示波器：用于实时信号的数字 TFT 示波器测试样品：金、铝和银测试样品法拉第外壳底座 (mm)：450 x 450 mm 光学和法拉第外壳控制提供：带有专用软件的 PC 控制专利技术：US:8866505 / GB:2439439 / GB:2495998 / EU:2783205 / JP:6018645

尖端材料/直径：2 mm 不锈钢尖端绝对功函数分辨率：≤ 0.05 meV 接触电位差分辨率：≤ 0.001 eV 样品扫描：50 x 50 mm 大气控制：氮气和 RH 控制相对湿度范围：20-85% 高度控制 25 mm 自动：开尔文探针模式和 PE 模式：CPD 和 PE 测量功函数测量时间：< 5 分钟内进行 PE 测量光学系统：带变焦镜头的彩色摄像机，用于监控和定位示波器：用于实时信号的数字 TFT 示波器测试样品：金、铝、银和硅太阳能电池测试样品面包板占地面积：900 x 600 毫米控制提供：带有专用软件的 PC 控制检测系统：带寄生电容抑制的 Off-null 保修期：12 个月