OAI 308 型紫外光计可靠且可重复，是一款精确的直读仪器，设计用于测量紫外光强度。 308 型具有适用于 UVA、UVB 和 UVC 系列的可拆卸探头，以及高速串行端口，并配有可选软件包，可促进强度模式、时间、波长、序列号和校准到期日的即时数据记录。

OAI 308T 型紫外线照度计专为高强度应用而设计，是一款可靠的直读仪器，设计用于测量紫外线固化的紫外线光强度。 308T 型配备可用于 UVA、UVB 和 UVC 系列的可拆卸探头，以及高速串行端口。仪表精度在 ±3% 以内，测量重复性在 ±3 LSB（最低有效位）以内。与所有 OAI 精密仪器一样，308T 型提供 NIST 可追溯测量。当与 2000mW/cm2 探头一起使用时，这款易于使用的仪表可在 0.1 至 1999.9mW/cm2 满量程之间自动调整范围。仪表在此范围内的线性度至少为 ±.002%-6 LSB。

50 多年来，OAI 一直是紫外光和能量测量仪器领域的世界领先者，这些仪器用于对半导体、MEMS、晶圆封装和晶圆凸点行业的光刻工艺进行可靠、精确的校准控制。 659 型是一款先进的紫外线曝光分析仪，专门设计用于所有晶圆步进机，包括高强度晶圆步进机。该仪表可平均测量多达 400 个曝光读数，具有以太网和 USB 接口用于下载记录的测量结果，强度范围高达 7,500mW/cm2。探头的波长有 365nm、400nm、420nm 和 436nm。 OAI 拥有完整的、经过认证的校准实验室，以保持我们仪表的性能、质量和可靠性。 659 型仪表可追溯至 NIST 标准。

Hiresta UX 是一款高性能仪表，用于测量各种非导电材料的表面电阻率和体积电阻率。该仪表具有 103-1014Ω 的扩展测量范围，非常适合生产、工程、研发和质量控制。 Hiresta UX 具有强大的算法，可以自动选择正确的电压，从而优化表面和体积电阻率测试。这款多功能、高性能电阻率计包括一个内置开关盒，可以选配 J-Box（符合表面电阻率和体积电阻率的 JIS K 6911 并与 ASTM D257 兼容）。 Hiresta UX 可以存储多达 2,000 个测量结果，并且可以轻松导出到 USB 存储设备。

Loresta FX 电阻率计是一种手持式装置，能够以一致的精度测量样品的低电阻率。该电阻率计使用各种探头测量电阻率。 Loresta FX 使用标准 RCF，用户可以输入其他已知的 RCF。它通常用于产品工程和质量控制。

Loresta GX II 仪表是一款智能、多用途低电阻率仪表，配有计算电阻率修正系数的软件。多种 4 针探头可与 Loresta GX II 配合使用。该仪器通常用于产品工程、研发和质量控制。

晶圆键合在 MST、MEMS 和微工程领域有许多应用。其中包括压力传感器、加速度计、微型泵和其他流体处理设备的制造。该工艺还用于硅微结构的一阶封装，以隔离封装引起的应力。 OAI AML 晶圆键合机有助于在高真空室内原位进行对准和键合。对于阳极键合，晶圆被冷加载并在处理室中加热。为了实现高精度对准，只有在达到工艺温度后才将晶圆对准并接触，从而避免了可能损害对准的差异热膨胀效应。 AML 晶圆键合机非常适合阳极键合、硅直接键合和热压键合应用。这些功能使得粘合机几乎可以与任何加工工具一起使用。

OAI UV Ozone Surface Treatment Plus 面向半导体工艺验证、产线补线与设备流通场景，页面整理公开资料中的型号、用途和初步选型要点，适合科研检测、材料表征、工艺验证或设备采购沟通。