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Metrology Series
CT 系统可确保尺寸精度
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计量系列:用于尺寸计量的 VDI/VDE 2630 认证 CT 扫描仪
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计量系列
内部和外部特征的无损 3D 测量,符合 VDI/VDE
X 射线断层扫描通过在单次扫描中实现全面的三维分析(内部和外部),最重要的是,以非破坏性方式 (NDT) 彻底改变了研究和工业质量控制。
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