广州科桥实验技术设备有限公司
首页
联系我们
  1. 首页
  2. 产品中心
微信扫码咨询13189057009
科桥实验微信联系二维码

发送型号、图片或采购需求

联系我们

科桥实验面向实验室仪器采购与二手半导体设备流通场景，支持型号检索、库存核对、出售收购、维修翻新、备件确认和交付沟通。

公司：科桥实验 CladeLab

电话：13189057009

邮箱：cladelab_services@outlook.com

广州科桥实验技术设备有限公司
关于我们联系我们

实验室仪器

实验室仪器产品中心设备型号目录材料表征仪器光谱与元素分析通用实验室设备站内搜索型号

二手半导体设备

二手设备出售收购二手设备库存清单二手ASML设备二手NIKON设备二手DISCO设备二手KLA设备二手HITACHI设备二手ACCRETECH设备提交库存或出售需求

半导体工艺设备

光刻、曝光与图形化设备刻蚀、清洗与表面处理设备薄膜沉积、PVD/ALD与真空系统检测、量测与失效分析设备切割、研磨与抛光设备封装、固晶与焊线设备按工艺目录查找

应用与知识

制药质量控制介孔和大孔材料分析孔径分布与孔体积分析技术文章常见问题术语词典

© 2026 CladeLab. All rights reserved.|提交需求后协助核对库存、配置、成色、报价与交付周期|粤ICP备2026090232号-1|隐私政策

产品与参数

产品中心

按仪器类型、品牌和应用场景展示常用型号，便于初步选型；更多型号可通过设备型号目录和站内搜索继续查看。

本页用于快速浏览常用仪器和典型配置；如需查找具体型号，请进入设备型号目录或使用站内搜索。

查看设备型号目录

共 1380 条

产品分类

按仪器品类浏览

全部产品色谱质谱仪器光谱与元素分析材料表征仪器生命科学仪器样品前处理设备通用实验室设备环境食品检测工业现场检测实验室配套与耗材半导体光刻与外延设备工业 X 射线与 CT 检测设备热处理与半导体工艺炉半导体光刻与测量设备纳米光刻、电子束与离子束系统等离子工艺与薄膜测量设备表面分析仪器等离子刻蚀与沉积系统
SAS II全自动亚筛分粒径分析仪

sas

SAS II全自动亚筛分粒径分析仪

现代全自动升级版费氏亚筛分粒度仪，精确测量粒径、表面积和粉末床孔隙率
查看详情
ICCS催化剂原位表征系统

iccs catalyst characterization

ICCS催化剂原位表征系统

表征过程中，无需从反应管中取出催化剂，可进行 TPR, TPD, TPO 和脉冲化学吸附
查看详情
HPVA II高压气体吸附仪

hpva ii

HPVA II高压气体吸附仪

工作压力范围从高真空至 100 或 200 bar
查看详情
GeoPyc全自动包裹密度分析仪

geopyc

GeoPyc全自动包裹密度分析仪

分析结果精度高、重复性好，无损检测，保持样品完整性
查看详情
Gemini全自动快速比表面与孔径分析仪

gemini

Gemini全自动快速比表面与孔径分析仪

Gemini全自动快速比表面与孔径分析仪
查看详情

第 114 / 115 页 · 共 1380 条

上一页
1
...112
113
114
115
下一页
半导体工艺设备
薄膜沉积与PVD系统
快速热处理与CVD/ALD系统
铁电与压电测试系统
半导体涂胶显影与晶圆处理设备
激光光谱与光子学系统
光刻、太阳模拟与计量设备
晶圆键合、光刻与量测系统
晶圆检测、晶体生长与等离子工艺设备
低温、磁学与材料表征系统
薄膜沉积、PVD/ALD 与真空系统
光刻、无掩模直写与曝光系统
扫描探针、低温显微与磁测量系统
开尔文探针、表面电势与光电子系统
介电、阻抗与温控测量系统
晶圆键合、对准与键合系统
磁光克尔效应与无掩模光刻系统
离子注入系统
薄膜沉积与真空工艺系统
半导体二手设备
半导体检测量测设备
半导体沉积与热处理设备
半导体耗材
FT4 粉体流变仪

ft4 powder rheometer

FT4 粉体流变仪

用于测量粉体流动性和粉体行为的通用型粉体测试仪。
查看详情
微型流动反应器（FR）

flow reactor fr

微型流动反应器（FR）

自动执行多个编程实验，包括完整的数据采集
查看详情
ChemiSorb HTP多站式静态容量法化学吸附仪

chemisorb htp

ChemiSorb HTP多站式静态容量法化学吸附仪

采用原位样品活化程序，每个反应器均具有独立的温度和流量控制系统
查看详情
穿透曲线分析仪（BTA）

breakthrough analyzer

穿透曲线分析仪（BTA）

一款外形紧凑、性能出色的多功能选择性吸附系统
查看详情
AutoPore V高性能全自动压汞仪

AutoPore V

AutoPore V高性能全自动压汞仪

具备测量介孔和大孔材料领先的性能，同时拥有行业领先的操作安全性
  • 孔径测量范围小到 3 nm 大到 1100 µm
  • 计算孔径范围0.003 到 1100 μm
查看详情
ASAP 2460 和 2425全自动比表面与孔径分析仪

asap 2460 2425

ASAP 2460 和 2425全自动比表面与孔径分析仪

ASAP 2460 和 2425全自动比表面与孔径分析仪
查看详情
3Flex三站全功能型多用气体吸附仪

3flex

3Flex三站全功能型多用气体吸附仪

表面积、孔隙率、化学吸附 和程序升温方法
查看详情