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EVG®40 NT
用于键合和光刻的多功能、高精度计量
科桥实验提供 EV Group EVG®40 NT 的型号核对、选型咨询、报价沟通、采购支持、安装培训和售后协同服务。

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自动测量系统
用于键合和光刻的多功能、高精度计量
EVG40 NT(独立工具)和 AVM(HVM 集成模块)能够测量光刻相关参数,例如关键尺寸以及键合对准精度。由于系统测量精度高,因此可以验证是否符合严格的工艺规范并立即优化集成工艺参数。凭借其多样化的测量方法,EVG40 NT 可同时适应大量制造工艺,例如纳米压印光刻或晶圆间键合。作为一个应用示例,EVG40 NT 完善了 EVG 高精度对准晶圆键合产品系列,作为可靠验证 EVG GEMINI FB 自动熔合键合系统 100 nm 键合覆盖精度的记录工具。
适用于光刻和键合计量的多功能测量选项
接合和光刻应用的对准验证
用于多种测量方法的从上到下显微镜
临界尺寸 (CD) 测量
芯片间对准验证
多层厚度测量
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