产品信息

ECHO 扫描声学显微镜是一种无损超声波探伤仪，旨在简化实验室或生产车间的测试、提高产量并最大限度地提高生产率。

这款业界领先的扫描声学显微镜为封装半导体开发、生产和故障分析提供了通用检测工具。 ECHO 能够检测薄至 0.05 微米的空气缺陷，并在空间上解析小至 10 微米的缺陷，非常适合凸点检测、堆叠芯片（3D 封装）检查、复杂的倒装芯片检查和更传统的塑料封装。

脉冲2

特征

坚固耐用的通用超声波探伤仪，适用于包覆成型单芯片封装、裸倒装芯片和其他标准应用

小至 10 微米的缺陷成像

内部设计和匹配的 15MHz 至 200MHz 传感器可满足所有类型的应用和材料需求

堆叠芯片成像 (SDI)（可选）

模塑倒装芯片成像 (MFCI)（可选）

Pulse2 的软件选项

Sonix 提供功能强大的显微镜分析软件，以增强封装半导体成像、加速生产并根据客户特定要求调整基于 ECHO 平台的系统。