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Echo
ECHO 扫描声学显微镜是一种无损超声波探伤仪，旨在简化实验室或生产车间的测试、提高产量并最大限度地提高生产率。
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ECHO 扫描声学显微镜是一种无损超声波探伤仪，旨在简化实验室或生产车间的测试、提高产量并最大限度地提高生产率。
特征
这款业界领先的扫描声学显微镜为封装半导体开发、生产和故障分析提供了通用检测工具。 ECHO 能够检测薄至 0.05 微米的空气缺陷，并在空间上解析小至 10 微米的缺陷，非常适合凸点检测、堆叠芯片（3D 封装）检查、复杂的倒装芯片检查和更传统的塑料封装。
坚固耐用的通用超声波探伤仪，适用于包覆成型单芯片封装、裸倒装芯片和其他标准应用
小至 10 微米的缺陷成像
范围广泛的传感器，从极低频到超高频
堆叠芯片成像 (SDI)（可选）
模塑倒装芯片成像 (MFCI)（可选）
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