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High Quality Multilayer Deposition
产品信息 scia Coat 200 在长达 200 毫米的基材上具有出色的涂层均匀性。通过使用离子束溅射沉积代替其他沉积工艺,可以获得光滑且无缺陷的薄膜。原位光学监控确保卓越的工艺稳定性。此外,该系统还能够处理晶圆以及任意形状的基板。
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scia Coat 200 在长达 200 毫米的基材上具有出色的涂层均匀性。通过使用离子束溅射沉积代替其他沉积工艺,可以获得光滑且无缺陷的薄膜。原位光学监控确保卓越的工艺稳定性。此外,该系统还能够处理晶圆以及任意形状的基板。
特点和优点
通过基材旋转和倾斜实现出色的均匀性
旋转支架上最多有 5 个水冷靶材,可进行原位更换
使用石英晶体振荡器和/或光学厚度监视器 (OTM) 和测试玻璃更换器进行配方控制的多层沉积
直接晶圆处理或通过载体处理适应可变的基板尺寸
配备350毫米离子束源作为辅助源,也可用于离子束蚀刻工艺
带包埋盒处理的单室
具有单基板装载锁的单室
应用领域
高反射镜的透射率和反射率图。沉积由氧化钽 (V) 和二氧化硅组成的四分之一波长堆叠,用于 630 nm 的高反射镜。反射率 > 99.9 %,透射率 15-20 ppm。
用于高反射层和抗反射层、带通滤波器和陷波滤波器的光学涂层
用于磁传感器(GMR、TMR、自旋电子学)的多层薄膜
高激光损伤阈值涂层
介电层和金属层的沉积
基材的原位预处理(蚀刻、清洁、平滑)
应用说明
大型基材上的介电涂层
含 Ta2O5 和 SiO2 的高反射和减反射涂层
原则
主要源将材料从靶材溅射到垂直或面朝下定向的基材上
用于预清洁基材和/或在沉积过程中提供辅助的辅助源
离子束溅射(IBS),即用离子束从靶材溅射出材料并将其沉积在基板上。
双离子束溅射 (DIBS) 使用额外的辅助离子束源来影响生长的薄膜。
离子束蚀刻 (IBE) 使用惰性气体离子准直束进行结构化或材料去除。
离子束溅射
双离子束溅射 (DIBS)
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