LT-sSNOM | Low Temperature Microscope
LT-sSNOM 具有近场成像和光谱功能以及其他 AFM 模式，如接触、动态、MFM、cAFM、KPFM、PRFM。尖端-样品界面由离轴抛物面镜照明，散射光由外差干涉仪检测。
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LT-sSNOM 具有近场成像和光谱功能以及其他 AFM 模式，如接触、动态、MFM、cAFM、KPFM、PRFM。尖端-样品界面由离轴抛物面镜照明，散射光由外差干涉仪检测。
NanoMagnetics 仪器 LT-sSNOM
LT-sSNOM 具有近场成像和光谱功能以及其他 AFM 模式，如接触、动态、MFM、cAFM、KPFM、PRFM。尖端-样品界面由离轴抛物面镜照明，散射光由外差干涉仪检测。可以与光学图像同时获得形貌图像。
532nm - 20μm 波长范围，带金属镜
带有光纤干涉仪的 AFM
压电式扫描仪，30x30x15μm 扫描面积 @4K
6x6x12mm 范围 XYZ 样品纳米定位器
用于离轴抛物面镜的 4x4x6mm 范围 XYZ 纳米定位器
200nm 分辨率电阻式位置传感器
10mK 至 300K 温度范围
带 8 个电触点的样品架
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