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LT-AFM/MFM | Low Temperature Microscope
LT-AFM/MFM 是一种免对准原子力显微镜系统,配备光纤干涉仪,工作波长为 1310 nm,噪声水平为 15 fm/√Hz,工作范围为 20mK-300K,磁场高达 16T。
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LT-AFM/MFM 是一种免对准原子力显微镜系统,配备光纤干涉仪,工作波长为 1310 nm,噪声水平为 15 fm/√Hz,工作范围为 20mK-300K,磁场高达 16T。
免对齐设计,方便用户使用;光纤干涉仪通过光纤电缆将光传输到悬臂梁的末端,用于测量悬臂梁的偏转;
同时提供 4K 下 10nm 的磁分辨率。具有与商用悬臂兼容的三个突出部分的对准芯片消除了最终用户进行光学对准的需要。
LT-AFM/MFM 通过提供各种成像模式来表征材料;扫描霍尔探针显微镜、磁力显微镜、电力显微镜、开尔文探针力显微镜、导电原子力显微镜。
LT-AFM/MFM 显微镜的仪器和独特设计使其能够针对不同的低温恒温器尺寸进行定制。
显微镜头由两个同心压电管组成;内部压电管用于扫描,外部压电管用于样品定位。
扫描压电器件由象限电极和用于抖动悬臂的抖动压电器件组成,并可根据要求提供三种不同的选项。
示例方法是通过粘滑运动完成的;允许在 Z 轴上移动 10 毫米,在 XY 轴上移动 Ø3 毫米,灵敏度为 50 纳米。
电子信号由强大的 LT-AFM/MFM 电子装置通过 BNC 输出产生;通过 LEMO 连接传输到显微镜。
带法布里-珀罗干涉仪的超低噪声 LT-AFM
集成到我们的低温原子力/磁力显微镜 (LT-AFM/MFM) 中的新型光纤法布里-珀罗干涉仪可在 4–300 K 温度范围内运行。采用多层介质镜涂层光纤来实现前所未有的 1 fm/√Hz 噪声水平,而散粒噪声极限为 0.51 fm/√Hz。腔体长度可调,并且可以使用集成在压电管扫描仪上的专用 2 毫米行程压电定位器将光纤置于非常靠近悬臂的位置。相同的纳米定位器还用于在悬臂交换期间将光纤停放在安全的停放位置。
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