产品信息

TriStar II Plus比表面与孔径分析仪

高通量比表面积与孔径分析仪

快速分析和真正的并行操作可最大化实验室通量

可靠的准确度，为决策和报告提供高度信心

得到全球更多科学家信赖：在 TriStar 上每 3 秒钟就进行一次 BET 比表面积测量

TriStar II Plus是一款完全自动化分析并带有三个分析站的比表面积和孔隙度分析仪，它能够有效提高常规质量控制分析的速度和效率；同时还拥有高精度、高分辨率和数据简化能力，以满足大多数研究需求。TriStar II Plus可兼容多种分析方法和数据简化，用户可优化分析特定的应用。

使用标准氮气系统，比表面积测试最低可达 0.01 m2/g 。。可选配氪气系统应用于低至 0.001 m2/g 比表面材料测试。

数据简化分析和控制软件MicroActive使用户能交互式地计算比表面和孔隙度。通过图形界面，用户可以自己选择数据范围分析，从而直接编辑和解读BET，t-plot，Langmuir和DFT模型结论。

直观的MicroActive软件使用户能够以交互方式评估等温线数据，并减少获取比表面积和孔隙度结果所需的时间，无需生成报告便可查看结果。用户可以很方便地生成或调整计算过程，例如BET比表面图转换。可方便快速的通过计算条选择数据点，计算所得到的数据结果可及时更新，并可在计算窗口内进一步细化使用的数据范围。

NLDFT模型允许用户合并氮气和二氧化碳等温线吸附数据，用于得到含分子尺寸孔径的材料的全范围孔径信息（如碳狭缝孔）。相对于标准的氮吸附分析，这种方法可以将孔径分析扩展到更小的孔径。这是因为CO2可以进入一些非常小的微孔，而在低温条件下，由于尺寸限制、连通性问题或扩散速度极慢等原因，可以在低温下进入更小的微孔，而 N2由于孔尺寸限制和孔连通问题以及扩散缓慢等原因进入不了这些微孔。

电池和燃料电池

独特的歧管设计，可用于高精度的气体控制

为什么选择 TriStar II Plus比表面与孔径分析仪?

增强的软件功能可通过气体吸附和压汞法叠加以及高级 NLDFT 获得全面的孔径分布数据。

Tristar II Plus的MicroActive软件允许用户将压汞法得到的孔径分布与气体吸附等温线得到的孔径分布图叠加。这个全新功能使得用户在一个软件中即可分析微孔、介孔和大孔分布。