SediGraph III Plus全自动X光沉降粒度分析仪

产品信息

SediGraph III Plus全自动X光沉降粒度分析仪

通过 X 射线沉降法测量粒度分布

颗粒直径 0.1 至 300 微米

大体积（50 毫升分散液），用于非均相材料的代表性取样

完整的颗粒统计 – 包括直接测量范围之外的颗粒

可用自动化功能：无需值守即可测量多达 18 个样品

在过去的四十多年中，Micromeritics 的 SediGraph 是全球众多实验室粒度分析的标准仪器。无论是在恶劣的生产环境中还是在实验室里，SediGraph 凭借其卓越的性能，提供可靠精确的测量结果。该仪器采用 X 光沉降法测量粒度分布，通过检测样品对 X 射线的吸收直接测量颗粒质量。SediGraph 根据斯托克斯定律，通过测量颗粒在已知性质液体中的沉降速率，能够得出粒径范围在 0.1μm – 300μm 间样品颗粒的等效球径。

新一代的 SediGraph III Plus 粒度分析仪结合成熟及改进的分析技术，能够提供具备更高重复性和精确度的颗粒粒径信息，并且进一步加快了测试速度，在几分钟内即可完成测试。

为什么选择 SediGraph III Plus全自动X光沉降粒度分析仪?

SediGraph III Plus 基于直接质量浓度检测来测定粒度分布和统计量（如 D10、D50 和 D90）。基本和高级报告均可一键生成。SediGraph III Plus 可与可选的 MasterTech 自动进样器联用，以连续监测生产过程，并将数据推送至网络或云端以便远程访问。

能够与其他粒径测量方法获得的数据合并，数据报告范围扩展至 125,000μm (125mm)，在地质学方面具有很好的应用

SediGraph III Plus 具备功能丰富、易于使用的用户界面，基于 Windows 程序，操作简单便利，具备点击式菜单，可定制带有实验室图标的报告，可编辑图形，剪切或粘贴图表，数据导出等功能。自定义方案能够帮助操作者规划、启动和控制分析，能够消除操作人员技能水平对分析结果所带来的影响，确保后续分析都以相同的方法进行。用户能够收集、整理、归档和简化原始数据，存储标准的样品信息和分析条件，便于后期应用。完成的报告能够显示在屏幕、纸质打印，或以各种格式传送到存储设备。

SediGraph III Plus 能够自动提供 0.1μm – 300μm 范围内的详细粒度分析报告，还可将其他粒度分析仪上 300μm – 125,000μm 范围的数据与之结合，使有效粒径分析范围扩展为 0.1μm – 125,000μm。

符合 ISO 13317 – 3、ASTM B761 和先进陶瓷 C28 委员会标准

Rosin-Rammler 分布

通过软件可叠加多个结果图，便于比较不同样品或同一样品的不同类型图，助力用户将分析结果与标准结果对比，且图表坐标可缩放以细致检查图形数据。表格和图示 X 轴选择中均可添加以 Phi 为单位的粒径（Φ = -log2 (mm 单位的颗粒直径)），表格还可将列设置为沉降速度（cm/s），X 轴能以颗粒粒径或沉降速率进行缩放。

颗粒粒径范围

运行环境温度 10°C – 40°C，储存或运输温度范围 -10 – 55°C