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APS04
开尔文探针 3 轴扫描：✓表面光电压：✓表面光电压光谱：✓尖端材料/直径：2 毫米金尖端 CPD 分辨率：1 - 3 meV 高度控制（自动）：25 毫米自动开尔文探针模式和 PE 模式：CPD 和光电发射测量 CPD 测量时间：<1 分钟内进行 CPD 测量PE 分辨率：完整光电发射测量WF 测量时间：PE 测量5 分钟内 DOS 测量：完全访问 DOS 信息光学系统：带变焦和定位监视器的彩色摄像头示波器：用于实时信号的数字 TFT 示波器测试样品：金、铝和银测试样品法拉第外壳底座（毫米）：450 x 450 毫米光学和法拉第外壳控制提供：带有专用软件的 PC 控制专利技术：US：8866505 / GB:2439439 / GB:2495998 / 欧盟:2783205 / 日本:6018645
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开尔文探针 3 轴扫描：✓表面光电压：✓表面光电压光谱：✓尖端材料/直径：2 毫米金尖端 CPD 分辨率：1 - 3 meV 高度控制（自动）：25 毫米自动开尔文探针模式和 PE 模式：CPD 和光电发射测量 CPD 测量时间：<1 分钟内进行 CPD 测量PE 分辨率：完整光电发射测量WF 测量时间：PE 测量5 分钟内 DOS 测量：完全访问 DOS 信息光学系统：带变焦和定位监视器的彩色摄像头示波器：用于实时信号的数字 TFT 示波器测试样品：金、铝和银测试样品法拉第外壳底座（毫米）：450 x 450 毫米光学和法拉第外壳控制提供：带有专用软件的 PC 控制专利技术：US：8866505 / GB:2439439 / GB:2495998 / 欧盟:2783205 / 日本:6018645
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