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Magneto-optical Kerr microscope & magnetometer
磁性材料的宏观特性(磁滞、能量损失、磁噪声等)由其磁性微观结构决定,即由磁畴及其对磁场激励的反应决定。因此,磁畴观察对于磁性材料的开发和磁化过程的理解至关重要。evicoMagnetics Kerr 显微镜和磁力计系统是用于磁畴和磁化过程可视化以及光学记录各种磁性材料(包括片状或带状、磁性薄膜和多层、图案薄膜或微米和纳米线)磁化曲线的设备。它们是半自动、非接触式、无损测量系统,使用磁光克尔效应 (MOKE) 作为对比机制。
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磁性材料的宏观特性(磁滞、能量损失、磁噪声等)由其磁性微观结构决定,即由磁畴及其对磁场激励的反应决定。因此,磁畴观察对于磁性材料的开发和磁化过程的理解至关重要。evicoMagnetics Kerr 显微镜和磁力计系统是用于磁畴和磁化过程可视化以及光学记录各种磁性材料(包括片状或带状、磁性薄膜和多层、图案薄膜或微米和纳米线)磁化曲线的设备。它们是半自动、非接触式、无损测量系统,使用磁光克尔效应 (MOKE) 作为对比机制。
提供两种基于卡尔蔡司光学器件的显微镜系统:(i) 标准显微镜,和 (ii) 组合高分辨率和概览显微镜。
标准显微镜是一种机械稳定的设施,具有高质量的光学器件,适用于光斑尺寸约为 100 微米的高分辨率域成像。 100 µm 和 5 mm 以及低至光学显微镜的分辨率极限 (300 nm)。
组合系统是一种更灵活的设置,结合了两个显微镜版本:(i)低分辨率版本,允许获得较大样品的域图案的概述,其可变光斑尺寸范围约为30 x 30 毫米至 8 x 8 毫米(ii) 高分辨率光学显微镜,可实现与标准显微镜相同的光斑尺寸和分辨率范围。两个版本都在相同的设置中实现,并且可以选择使用。
对于所有显微镜系统,都提供图像处理功能以增强对比度。可以施加任意方向的面内磁场。另外,还可以选择面外磁铁。可以光学测量样品表面选定点上的磁化环(MOKE-磁力测量),同时观察和记录相应的域图像。显微镜可以很容易地扩展到高温和低温观察。此外,还可以实现定量克尔显微镜和频闪(时间分辨)显微镜。
该显微镜系统由 Rudolf Schäfer 教授博士和 Jeffrey McCord 教授博士开发,他们在该领域拥有长期的经验。 Schäfer 教授、博士是 Springer 专着《Magnetic Domains: The Analysis of Magnetic Microstruction》的合著者。
此外,evico 磁学的理念是独特的:我们提供克尔显微镜,而不仅仅是显微镜系统。我们很高兴在科学的基础上与客户合作,为域解释提供持续的帮助,并为优化磁光实验提供建议。
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