产品信息

开启太赫兹精度分析的新可能性

Onyx 是同类系统中的首个系统，可对石墨烯、薄膜和其他 2D 材料进行全区域、非破坏性电气表征。

它弥合了宏观和纳米尺度工具之间的差距，可实现从 0.5 平方毫米到整平方米的测量，加速从研究到工业应用的过渡。

使用太赫兹波技术...

Onyx：推动材料创新的精度

从研发到生产，Onyx 的适应性技术是突破材料科学界限的行业的首选解决方案。

Onyx 为多个行业提供无与伦比的材料表征。无论您使用的是光伏、半导体、智能材料还是先进涂层，Onyx 都能提供精确、实时的见解，推动创新并提升性能。

通过先进的无损分析最大限度地提高薄膜涂层的效率。

实现精确的电气特性测量以优化半导体制造。

利用全面、深度相关的数据释放动态材料的潜力。

通过高精度的电气特性洞察力推动突破性研究。

利用 Onyx 的先进测量功能微调组件。

通过准确、快速和非侵入性的测试确保一致的质量和高性能。

观看 Onyx 的实际行动！

与穿透能力有限的红外辐射不同，我们的技术使用太赫兹波，可以更深入地穿透材料，从而提供更彻底的分析。

此外，虽然微波为某些应用提供了良好的分辨率，但我们的解决方案可提供更高的分辨率，从而实现亚毫米级的更精确测量。