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AIXHALT – 加快寿命测试速度

借助我们的并行测试系统 aixHALT，您可以比以前更快地测试压电和介电材料的可靠性和寿命。

用于同时测量的模块化系统

HALT 代表“高度加速寿命测试”。随着压电薄膜变得适合批量生产并用于越来越多的应用，能够测试其耐用性至关重要。执行此类寿命测试需要对系统进行加速老化，因为薄膜中这一过程背后的机制尚未完全了解。因此，我们必须研究更大的参数空间，以便进行统计上可靠的分析。从温度、电压、频率到信号形式、湿度等各种测试参数中的每一个都必须通过大量样本进行测量。直到最近，这还是一个耗时的过程。

我们开发了 aixHALT 来加快速度。凭借其模块化设计，该并行测试系统使用户几乎可以同时测量任意数量的样品。这加速了这一过程，同时快速产生可靠的结果。

µController – 系统的核心

我们所有的 HALT 系统都是围绕我们自己的 µController (µC) 构建的。它配备了一个内部开关矩阵，可以控制和监控多达 64 个通道。结合针对相应应用定制的放大器、样品架和温度控制器，您将获得根据您的测量精确定制的高性能测试系统。